有机太阳能电池(OPV)教程 - 第 D 部分(输出与更深入的理解)
1. 电学参数
你可以通过点击主界面中的 电学参数 按钮来访问电学参数编辑器 (见 ??)。 打开后,该编辑器允许你调整迁移率、复合常数、陷阱模型以及与 有源层 相关的其他过程。该窗口如 ?? 所示。 在层编辑器中被设置为 有源 的任何层都会显示在这里。
顶部工具栏用于启用或禁用特定的物理机制——按下按钮即可开启相应机制:
- 漂移–扩散:通常对任何有源层启用。
- Auger 复合:在 OPV 器件中很少使用,但可用于研究 (??)。
- 动态 Shockley–Read–Hall(SRH)陷阱 和 平衡 SRH 陷阱: 用于描述通过陷阱态的复合。在有机模拟中默认启用 (??)。
- 激子(扩散) 和 激子(单线态/三线态): 用于描述激发态,后文将进一步讨论 (??)。
2. SRH 陷阱与双分子复合
在大多数有机模拟中,动态 Shockley–Read–Hall(SRH)陷阱 默认启用, 因为通过陷阱介导的复合在无序材料中十分常见,并且往往主导复合过程。 然而,对于本入门示例而言,SRH 会引入不必要的复杂性,因此我们将暂时将其关闭。
要关闭 SRH,在工具栏中单击一次 动态 SRH 陷阱 按钮。 相应的 SRH 字段将从 电学参数编辑器 中消失 (见 ??)。 你可以随时再次点击按钮以重新启用 SRH。
仍然必须存在一种复合路径——否则电子和空穴将无限期存在—— 因此在本练习中我们使用 自由-自由(双分子)复合。 在电学参数编辑器中,将 nfree → pfree 复合速率常数 设置为 1 × 10−15 m3·s−1。 该简单模型描述了一个自由电子与一个自由空穴的复合。 虽然这并非对有机半导体的完美描述,但对于本示例已足够。 双分子(自由-自由)复合速率表达式为:
R(x) = k · n(x) · p(x)
其中 R(x) 为复合速率,k 为双分子复合常数, n(x) 与 p(x) 分别为局域电子和空穴浓度。
3. 迁移率、复合、寿命以及 μτ 积
对器件性能而言,两个最重要的参数是 载流子迁移率(μ)和 自由-自由复合常数(k)。 在 OghmaNano 中,这些参数在 电学参数编辑器 中设置: 电子迁移率 和 空穴迁移率 字段控制 μ, 而 nfree → pfree 复合速率常数 字段定义 k (见 ??)。
迁移率决定载流子在器件中漂移的速度:较高的 μ 意味着载流子能更快到达电极, 从而降低发生复合的概率。自由载流子之间的复合(电子与空穴相遇) 决定了 载流子寿命(τ)。 较大的复合常数 k 表明载流子更快复合,导致较短的 τ; 较小的 k 则意味着载流子存活时间更长。 在一个简化的图像中,寿命可与载流子浓度和复合常数近似表示为:
τ ≈ 1 / (k · n)
其中 n 为载流子浓度。 这表明更高的复合常数或更高的载流子浓度都会导致更短的寿命, 而较小的取值会延长 τ,并提高载流子被提取的概率。
迁移率与寿命共同形成 μτ 积(μ·τ), 用以表示载流子在复合前能够行进的距离。 较大的 μτ 提高了光生载流子逃逸至电极并贡献有效电流的概率。 在实践中,μτ 是描述太阳能电池输运–复合“质量”的一个方便的 性能指标: 具有较高 μτ 的器件/材料堆叠通常能够容忍更厚的有源层, 并表现出更好的载流子收集(通常体现在更高的 JSC 和 FF 上)。 它并非完整的描述——光学吸收、能级失配和接触选择性同样重要—— 但它提供了一种快速比较不同材料和工艺条件下器件质量的方法。
我如何知道应使用哪些电学参数?
对于诸如 AlGaAs 或 InP 等传统半导体,载流子迁移率、带隙以及复合常数等数值 在文献中已有详细整理。 这些材料通常在极高纯度下制备(常称为“11 个 9”,即 99.999999999%), 因而其物理性质高度可重复。 如果你拥有一片 GaAs 晶圆,几乎可以精确知道其迁移率或寿命, 并可直接从参考书中查阅(例如 Piprek 的 Semiconductor Optoelectronic Devices)。
新型半导体材料(如有机半导体或钙钛矿)则截然不同。 它们的纯度通常最多只有约 99.9%, 比传统 III–V 半导体低了八个数量级。 同时,它们在结构上是无序的: 有机材料不是规则晶格中的原子排列, 而是由聚合物和分子组成的缠结结构; 钙钛矿则往往形成非均匀的畴结构。 由于其形貌对制备条件高度敏感, 即便来自同一供应商的“相同”材料, 在不同的人、不同地点、不同工艺下制备, 其电学行为也可能大相径庭。 因此,诸如迁移率、陷阱密度和复合常数等电学参数 无法简单查表获得,而必须通过估计、调节或拟合实验数据来确定。
那么,在为新型器件设置参数时应如何操作?一些实践性建议如下:
- 从基础模拟开始:OghmaNano 提供的示例文件 已针对实验器件进行标定,或采用了合理的文献数值。
- 查阅文献:检索类似材料的研究, 以确定合理的参数范围(迁移率、寿命、陷阱密度、复合常数)。
- 与实验对比:运行模拟并检查 JV 曲线的量级 是否与实验结果相当;若差异较大,则调整迁移率或复合常数。
- 拟合数据(高级): 通过拟合实验 JV 曲线进行参数提取是可行的 (??), 但这一过程较为困难,不应作为首选方法。
📝 检查你的理解(第 E 部分)
- 电学参数编辑器中的哪些字段分别设置:(a) 电子迁移率,(b) 空穴迁移率,以及 (c) 自由-自由复合常数?
- 动态 SRH 陷阱代表哪些物理过程?为什么在本示例中将其关闭?
- 写出双分子复合速率 R(x) 关于 k、n(x) 和 p(x) 的表达式。
- 载流子寿命(τ)如何与复合常数 k 和载流子浓度相关?
- μτ 积在物理上代表什么?为何它被视为太阳能电池的一个有用性能指标?
- 如果将电子和空穴迁移率提高两个数量级,你预计载流子提取和器件效率会发生什么变化?
- 在比较包含 SRH 复合和自由-自由复合的模拟时,尽管两者都描述了载流子损失,为何 JV 曲线可能略有不同?
- 为什么对于传统半导体(如 GaAs、InP),迁移率或复合常数等参数可以查表获得, 而对于有机材料和钙钛矿却往往需要估计或拟合?
👉 下一步: 继续阅读 第 F 部分:接触与 VOC ,以探索接触性质如何影响 OPV 的开路电压。